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Allgemeine Information |
Angaben zur Identifikation |
| Signatur: | 704 HFO Frankfurt (Oder) 310 |
| Titel: | Abschluss- und Entwicklungsberichte |
| Darin: | Enthält u. a.: Weltstandsvergleich der Miniplasttransistoren. - ICBO-Instabilitätsuntersuchungen am SS 216/218 Minitransistor. - Unterschiede der statischen Messungen PAV und Wafer-Prober. - Klimabelastung am SS 216. - Untersuchung über die Anwendbarkeit der Miniplastmontagetechnologie für versilberte Trägerstreifen. - Stand der Messtechnik im VEB HFO. - Mess- und Prüfverfahren der Materialien und Halbzeuge zum Zwecke der Qualitätssteigerung und Qualitätsfestlegung". - Vergoldung von Transistor-Glasdurchführungen. |
| Dat. - Findbuch: | 1968 - 1969 |
| Frühere Signaturen: | 349 |
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Benutzung |
| Erforderliche Bewilligung: | Keine |
| Physische Benützbarkeit: | Uneingeschränkt |
| Zugänglichkeit: | Öffentlich |
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URL für diese Verz.-Einheit |
| URL: |  http://blha-recherche.brandenburg.de/detail.aspx?ID=672249 |
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