Angaben zur Identifikation |
| Signatur: | 504 Mikroel Stahnsdorf 15 |
| Titel: | Abschlussbericht zum Thema: "Halbleiter - Oberflächen".
Teilthemen: "Herstellung von Silizium-Glas-Strukturen und Untersuchungen über die elektrischen Eigenschaften der so entstandenen Grenzflächen".
"LEED - Auger - Bericht".
"Impuls-Feldeffekt und langsame Relaxationen".
"Zur quasistatischen C(V)-Methode".
"Messplatz zur Ermittlung des spezifischen Widerstandes von Halbleitern mittels der Vierspitzen-Methode und zur Bestimmung des Leitungstypen mit Therosonde".
"Nearly Free Electron Approximation and Binding Model for Interface States at Semiconductor Surfaces".
"Oxid- und Nitridbeschichtung von Siliziumsubstraten".
"Untersuchungen zur Oberflächen-Photospannung".
"Feldeffektmessungen mit hochfrequentem Probenstrom".
Auftragnehmer: Zentralinstitut für Elektronenphysik der Deutschen Akademie der Wissenschaften, Abteilung Elektronische Halbleiter, Berlin |
| Darin: | Enthält u. a.: Diagramme. - Fotos. |
| Dat. - Findbuch: | 1971 |
|
| |
Benutzung |
| Erforderliche Bewilligung: | Keine |
| Physische Benützbarkeit: | Uneingeschränkt |
| Zugänglichkeit: | Öffentlich |
| |
URL für diese Verz.-Einheit |
| URL: |  http://blha-recherche.brandenburg.de/detail.aspx?ID=1120636 |
| |