504 Mikroel Stahnsdorf 103; AF 1 - Themenstudie zum Forschungsthema "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". \ Auftragnehmer: Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau, Sektion Informationselektronik; 1973 (Akte)

Archivplan-Kontext


Angaben zur Identifikation

Signatur:504 Mikroel Stahnsdorf 103
Titel:AF 1 - Themenstudie zum Forschungsthema "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten".
Auftragnehmer: Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau, Sektion Informationselektronik
Darin:Enthält: Teilthema 1 "Studie über ein Messwerterfassungssystem für auszuwählende verfahrenstechnische Parameter im FKS (Festkörperschaltkreis)-Fertigungsprozess". - Teilthema 2 "Elektrische Ausfallanalyse an analogen Festkörperschaltkreisen". - Teilthema 3 "Erfassung und Analyse wichtiger Parameter und Einflussgrößen für einzelne Prozessschritte in der Halbleiter-Bauelemente-Fertigung". - Tabellen. - Diagramme.
Dat. - Findbuch:1973
 

Benutzung

Erforderliche Bewilligung:Keine
Physische Benützbarkeit:Uneingeschränkt
Zugänglichkeit:Öffentlich
 

URL für diese Verz.-Einheit

URL: http://blha-recherche.brandenburg.de/detail.aspx?ID=1120724
 
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